锂离子电池(LIB)已广泛用于我们生活中的日常产品，例如混合动力汽车，手机等，但它们的充电/放电过程尚未完全了解。要了解该过程，应揭示锂离子的行为，分布以及化学成分和状态。分子科学研究所的一个研究小组在扫描透射X射线显微镜(STXM，如图1所示)上注意到了一种强大的技术，可以执行具有高空间分辨率的X射线吸收光谱法(XAS)。
扫描透射软X射线显微镜(STXM)的光学系统示意图。信用：NINS / IMS
通过使用特定元素的吸收边缘，可以获得样品的二维化学状态。要通过STXM分析锂，由于缺乏合适的光学元件以及来自单色仪的大量高次谐波污染了XAS，低能量区域中的Li K吸收边缘(55 eV)使其难以测量XAS。因此，为了克服这些问题，开发了低通滤波波带片(LPFZP)(STXM的聚焦光学元件)。LPFZP使用200 nm厚的硅作为区域板的基板，并且该基板通过使用Si L作为100 eV以上的低通滤波器而工作2,3条边。LPFZP的混合光学器件可以抑制高次谐波，而无需在STXM中安装额外的光学组件。结果，带有LPFZP的STXM可以抑制低至原始强度0.1%的高次谐波，并能够测量Li K边缘的XAS光谱。然后，空间分辨率估计为72 nm。
图2.(a)具有70 eV软X射线的碳酸锂样品的STXM图像和(b)面板上圆圈所示的1-4区域的锂K边缘X射线吸收光谱(a)信用：NINS /IM小号
分析了LIB的测试电极的薄片样品。样品通过聚焦离子束工艺由Li 2 CO 3制成。图2(a)和2(b)分别显示了70 eV的STXM图像和Li K-edge XAS光谱。XAS光谱是从图2(a)中圆圈所示的区域成功获得的。
要了解锂在LIB中的行为，就必须改善其性能。然后，带有LPFZP的STXM将有助于分析具有高空间分辨率的图像。
