Malvern Panalytical推出了其Aeris紧凑型X射线衍射仪(XRD)的新版本。这个新版本包含以前在大型系统中看到的功能。

新的Aeris模型建立在紧凑的Aeris XRD系统系列的基础上，该系统以具有竞争力的速度提供了来自多晶材料的高质量数据，专为在所有环境中使用而设计。具体而言，掠入射XRD(GIXRD)将能够检查薄膜和涂层，而透射率测量将提供不受样品制备影响的更准确的数据。

Aeris XRD的直接操作界面为用户简化了XRD测量。Aeris的性能类似于落地式系统。它不需要任何外部供应和基础设施，并且具有成本效益。此外，可以使用OmniTrust软件在规定的环境中使用Aeris。

即使功能范围不断扩大，操作员仍将能够在不同的应用程序之间轻松切换，从而使他们能够专注于自己的研究，而不必专注于设置和调整系统。使用新的Aeris，研究人员可以更轻松，更经济地获得详细，准确的数据，从而为制药和涂料行业的小型公司以及教育机构打开了为科学研究和工艺开发做出贡献的可能性。

Aeris产品经理Wilijan Vissers说：“我们为推出新的Aeris感到非常自豪，该模型不断提高XRD粉末的检测标准。” “通过在紧凑型仪器中提供落地式系统的数据质量，新型Aeris将使更多的客户能够进行深入的材料分析并优化其工艺，从而推动科学前沿的进一步发展。 ”

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